鋼研納克低電壓超高分辨場發(fā)射掃描電鏡SEM FE-2050T 低電壓超高分辨旗艦機(jī)型具備頂級(jí)的場發(fā)射電子光學(xué)鏡筒，分辨率高達(dá)1.2nm@1kV和0.7nm@15kV，適用于絕緣、不耐輻照及磁性樣品。其鏡筒內(nèi)減速技術(shù)提供低至50eV的超低能量成像能力，能夠觀察樣品的極表面細(xì)節(jié)。獨(dú)特的三物鏡結(jié)構(gòu)和一鍵切換功能，實(shí)現(xiàn)超大視野、超大景深、超高分辨等多模式切換，無需改變工作距離。此外，標(biāo)配的Inlens-SE、BSE、ET-SE三種探測器在全電壓段（0-30kV）均可同時(shí)成像，為高分辨形貌觀察和成分分析提供極大便利。

鋼研納克低電壓超高分辨場發(fā)射掃描電鏡SEM FE-2050T圖文介紹